密析爾高精度冷鏡露點儀露點水分測定儀
更新日期：2023-08-16
簡要描述：
密析爾高精度冷鏡露點儀露點水分測定儀，集操作簡單和高度靈敏于一體的高精度露點儀。 新型S8000露點儀可直接測量露點、溫度和壓力。露 點測量基于經(jīng)證實的基礎光學冷鏡測量原理，可在整 個工作量程內(nèi)，得出長期穩(wěn)定、無漂移的濕度測量結(jié)果。
| 品牌 | michell/英國 | 重復性 | 2℃ |
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| 準確度 | 0.1℃ | 工作溫度 | 100℃ |
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| 價格區(qū)間 | 1萬-5萬 | 儀器原理 | 鏡面式 |
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| 產(chǎn)品種類 | 便攜 | 應用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源 |
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密析爾高精度冷鏡露點儀露點水分測定儀，集操作簡單和高度靈敏于一體的高精度露點儀。 新型S8000露點儀可直接測量露點、溫度和壓力。露 點測量基于經(jīng)證實的基礎光學冷鏡測量原理，可在整 個工作量程內(nèi)，得出長期穩(wěn)定、無漂移的濕度測量結(jié)果。利用這一測量方式，S8000提供一系列測量單位， 包括ppmV、濕度、相對濕度和ppmW。
亮點- 精確度為± 0.1°Cdp（± 0.18°Fdp）
- 基準的、精確的測量、無漂移
- 簡單的觸摸操作配置界面
- 精準測量-60°C（–76°F）露點
- FAST技術(shù)–確保0°C（+ 32°F）以下鏡面結(jié)霜
- 工作壓力高達2MPa（20barg）
- 支持USB、Ethernet、RS485或RS232連接
- 通過SD卡或數(shù)字端口進行數(shù)據(jù)記錄
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密析爾高精度冷鏡露點儀露點水分測定儀，技術(shù)參數(shù) |
| 露點傳感器性能 | | 測量技術(shù) | 冷卻鏡面 | | 精度* | ±0.1°C (±0.18°F) | | 重復性 | ±0.05°C (±0.09°F) | | 量程范圍 | -60至+ 40°Cdp（-76至+ 104°Fdp） | | 運行溫度 | 低壓版 0至1barg/14.5psig
高壓版 0至20 barg/290 psig | | 樣本流速 | 0.1至1Nl/min（0.2至2.1scfh） | | 檢測系統(tǒng) | RRS三重檢測 | | 遠程PRT探針（備選） | | 溫度測量 | 4線Pt100, 1/10 DIN B級 | | 測量精度 | ± 0.1°C（± 0.18°F） | | 線纜長度 | 2m（6.6’）（長250m（820’）） | | 流量傳感器 | | 測量精度 | 通常± 5%，未校準 | | 量程范圍 | 0至1000ml/min | | 集成壓力傳感器（可選） | | 量程范圍 | 0至25bara（0至377psia） | | 測量單位 | psia、bara、KPa或MPag | | 監(jiān)視器 | | 分辨率 | 精確至0.001，用戶可自行選擇，取決于設備參數(shù) | | 測量單位 | °C 和°F用于露點及溫度%RH、g/m3、g/
kg、ppmV、ppmW（SF6），用于濕度計算 | | 輸出 | 3個頻道，用戶可從4-20mA、0-20mA或0-1V中自行選擇
數(shù)字信號 USB、備選RS232和RS485通訊接口或以太網(wǎng)TCP協(xié)議
報警信號 2個無電壓轉(zhuǎn)換觸點，1個過程報警，1個故障報警；30V DC下1A | | HMI | 5.7” LCD觸控屏，藍屏白字 | | 數(shù)據(jù)記錄 | 內(nèi)置SD卡（512Mb）和USB接口
SD卡（FAT-32） — 高32Gb，可存儲2400萬條數(shù)
據(jù)或以2秒間隔累計記錄560天 | | 環(huán)境條件 | -20至+ 40°C（-4至+ 104°F） | | 供電 | 85至264V AC，47/63Hz | | 功耗 | 100 瓦 | | EMC - *評定 | 符合EN61236:1997（+ A1/A2/A3） | | 結(jié)構(gòu)規(guī)格 | | 尺寸 | 187 x 440 x 343mm（7.36 x 17.32 x 13.5”）高 x 寬 x 長 | | 重量 | 11.4kg（25.1lb） | | 通用 | | 過程連接 | 6mm Swagelok®（公接頭）
或1/4” Swagelok®（公接頭） | | 儲存溫度 | -20至+ 50°C（-40至+ 122°F） | | 校準 | 3點可溯源原廠校驗（標準）
或經(jīng)UKAS認證的校準機構(gòu) - 詳情咨詢密析爾儀表公司 |
* 測量精度指測試和校正參考下儀器的大偏差。還應考慮測試和后續(xù)使用中校準系統(tǒng)及環(huán)境條件的不確定性。 |
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